《黑科技從刷題開始》第158章 良率達標(1)

作者:夢凝寒·2個月前

陳序眉頭猛地擰成一團,抬手指著監控屏的操作區:“暫停光刻工序,所有工位暫時保持現有狀態,不要動任何引數。”

操作組組長手指頓了一下,立刻按了暫停鍵,監控屏上跳出來的綠色執行標識瞬間變成黃色的暫停狀態,車間裡的嗡鳴聲弱了一截。

老林拎著工具包從裝置區快步走過來,湊到螢幕前掃了一眼那條几乎看不見的引數折線,臉色沉了下來:“0.01%的波動,系統預設是環境溫度浮動導致的,一般不會觸發預警。但光刻功率的容錯閾值才0.03%,這波動己經佔了三分之一。”

“肯定不是溫度的問題。”陳序搖了搖頭,“剛才車間恆溫系統的引數我一首盯著,全程穩定在22攝氏度正負0.1度,沒有波動。你帶裝置組去光刻工位,把韌體和校準引數逐項校驗一遍,從底層日誌開始查。”

“好。”老林轉身衝裝置區招了招手,兩個抱著筆記本的技術員立刻跟了過來,幾人繞到光刻機後方的維護區,掀開裝置外殼動手接入除錯埠。

總負責人攥著對講機走過來,動靜壓得很低:“會不會是內鬼搞的鬼?剛才流片啟動前不是才查過所有韌體嗎?”

“不好說。”陳序的目光落在監控屏上正在暫停狀態的光刻工位介面,“許可權排查的範圍之前只覆蓋了常規操作許可權,要是有人有底層除錯許可權,改個0.02%的引數根本不會留明顯痕跡。”

旁邊的院士也湊了過來,戴上老花鏡盯著那條小折線看了半天,輕輕嘆了口氣:“小心點好,這一步不能出任何岔子,多少人盯著咱們呢。”

車間裡沒人說話,只有裝置組敲擊鍵盤的聲音時不時響起來,空氣繃。

過了大概七八分鐘,老林從維護區鑽出來,額頭上沾了點灰,手裡舉著筆記型電腦走過來:“找到了,光刻工位的校準引數被人改了0.02%,剛好卡在系統預警閾值的邊上,日常巡檢根本查不出來。修改日誌被人用管理員許可權清掉了,要不是剛才剛好盯著引數跳變,根本發現不了。”

“能恢復嗎?”陳序問。

“沒問題,原廠引數我都有備份,三分鐘就能校準回去。”老林蹲在主控臺邊,手指在鍵盤上飛快敲著,螢幕上一行行程式碼滾過,沒過三分鐘他就抬起頭,“好了,引數己經恢復成原廠校準值,我剛跑了三遍測試,波動範圍控制在0.005%以內,符合要求。”

“要不要再查一遍其他工位?”操作組組長問。

“查,所有工位的校準引數全部過一遍,別漏了任何一個環節。”陳序說。

裝置組的人立刻分散到各個工序工位,挨個接入除錯埠核查引數,花了十多分鐘,所有人都回來報告說沒有異常。

“可以重啟流片了。”老林抹了把額頭上的汗,“我盯著光刻工位,有任何波動隨手喊停。”

陳序頷首,看向操作組組長:“重啟工序,首片晶圓繼續曝光。”

操作組組長按下啟動鍵,車間裡的嗡鳴聲再次響了起來,監控屏上的黃色標識變回綠色,光刻工位的掩模緩緩落下,雷射束精準打在晶圓表面。

所有人都盯著監控屏,首到操作組的聲音傳來:“光刻工序完成,引數正常。”

懸在半空的那顆心才稍稍落了下來。

接下來的工序走得異常順利,刻蝕、離子注入、研磨、封裝,每一步的引數都是全綠。三個小時後,首批二十片5nm晶圓順著傳送帶送到了流片車間的檢測區。

檢測人員早就等在那裡,戴上防靜電手套小心翼翼地拿起晶圓放到檢測裝置上,接入測試埠開始跑全項檢測。

陳序、老林、總負責人和院士都杵在檢測區外面,隔著玻璃瞅著裡面的檢測人員操作,沒人說話,只能聽見檢測裝置發出的細微滴答聲。

檢測人員面前的螢幕上跳著一行行資料,綠色的對勾一個接一個亮起來。過了大概西頗為鍾,他摘下眼鏡揉了揉眼神,轉身對著玻璃外的幾人比了個OK的手勢,然後拿著列印好的檢測報告走了出來。

“陳組長,初步檢測結果出來了,二十片晶圓裡有十八片各項引數全部達標,良率90%。”檢測人員把報告遞過來,聲音裡帶著藏不住的激動,“比我們之前試產的7nm良率還要高兩個百分點。”

陳序接過報告快速翻了一遍,每一頁的檢測項後面都打著綠色的對勾,精度、功耗、穩定性各項指標都比設計標準還要好上一點。他把報告遞給旁邊的院士,院士翻完又遞給總負責人,幾人臉上的凝重總算換成了笑意。

“好,好啊。”院士連說了兩聲好,手都有點抖,“這一步走通了,國產5nm的量產大門可算被我們踹開了。”

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